ورود به حساب کاربری

خرید کتاب Thermal-aware testing of digital VLSI circuits and systems

اعمال کد تخفیف
مبلغ قابل پرداخت 20,000 تومان
لغو
این بخش در حال توسعه می باشد و به زودی در دسترس شما عزیزان قرار میگیرد
بستن
کاربر محترم لینک های دانلود حداکثر تا ۳ ساعت دیگر به شماره شما پیامک می شود
از صبر و شکیبایی شما ممنونیم
بستن
برای خرید و دانلود فایل باید وارد شوید
ثبت نام / ورود بستن
Thermal-aware testing of digital VLSI circuits and systems

Thermal-aware testing of digital VLSI circuits and systems

Thermal-aware testing of digital VLSI circuits and systems
افزودن به بوکمارک اشتراک گذاری 0 دیدگاه کاربران 5 (0)

مشارکت: عنوان و توضیح کوتاه هر کتاب را ترجمه کنید این ترجمه بعد از تایید با نام شما در سایت نمایش داده خواهد شد.
ترجمه این کتاب مشاهده همه کتاب های ترجمه نشده
Thermal-aware testing of digital VLSI circuits and systems
از خودتان درباره کتاب توضیح کوتاهی بنویسید
, "The book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. The book will be suitable for the researchers working on power- and thermal-aware design and test of digital VLSI chips--",
لغو
iran گزارش تخلف

گزارش تخلف

بستن

فرمت کتاب

print book

زبان

english

تاریخ انتشار

2018

نویسنده

Santanu Chattopadhyay

ناشر

Boca Raton, FL : CRC Press, Taylor & Francis Group, [2018] ©2018

شابک

9781351227780
20,000 تومان
خرید کتاب مطالعه نمونه درخواست ترجمه کتاب

کتاب های مرتبط

Functional Design Errors in Digital Circuits

Functional Design Errors in Digital Circuits

Igor L. Markov
20
هزار تومان
Digital Systems Testing and Testable Design

Digital Systems Testing and Testable Design

Miron Abram...
20
هزار تومان
Testing of Digital Systems

Testing of Digital Systems

Sandeep Gupta
20
هزار تومان
Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits

Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits

Vishwani D....
20
هزار تومان
9780849330575

9780849330575

بدون نویسنده
20
هزار تومان
Thermal-aware testing of digital VLSI circuits and systems

Thermal-aware testing of digital VLSI circuits and systems

Santanu Cha...
20
هزار تومان
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Santanu Cha...
20
هزار تومان
Digital system test and testable design : using HDL models and architectures

Digital system test and testable design : using HDL models and architectures

Zainalabedi...
20
هزار تومان
Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits

Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits

Manoj Sachdev
20
هزار تومان
Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits

Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits

S Jayanthy
20
هزار تومان
Introduction to VLSI Testing

Introduction to VLSI Testing

Robert J. F...
20
هزار تومان
VLSI Test Principles and Architectures

VLSI Test Principles and Architectures

Laung-Terng...
20
هزار تومان
Vlsi Design Methods

Vlsi Design Methods

Luc J.M. Cl...
20
هزار تومان
System-On-Chip Test Architectures

System-On-Chip Test Architectures

Charles Stroud
20
هزار تومان
Lsi/Vlsi Testability Design

Lsi/Vlsi Testability Design

Frank F. Tsui
20
هزار تومان
VLSI Test Principles and Architectures

VLSI Test Principles and Architectures

Cheng-Wen Wu
20
هزار تومان
VLSI design and test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised selected papers

VLSI design and test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised selected papers

Anirban Sen...
20
هزار تومان
VLSI design and test : 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised selected papers

VLSI design and test : 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised selected papers

S Rajaram; ...
20
هزار تومان
System-On-Chip Test Architectures

System-On-Chip Test Architectures

Nur A Touba
20
هزار تومان
Hierarchical modeling for VLSI circuit testing

Hierarchical modeling for VLSI circuit testing

Debashis Bh...
20
هزار تومان
Manual On The Use Of Thermocouples In Temperature Measurement

Manual On The Use Of Thermocouples In Temperature Measurement

Astm Commit...
20
هزار تومان
  • اطلاعات
  • دیدگاه کاربران
برای مطالعه توضیحات وارد حساب کاربری خود شوید

دیدگاه کاربران

دیدگاه خود را بنویسید
|
افزایش درآمد افزایش درآمد بهترین های کودک و نوجوان بهترین های کودک و نوجوان میخوای آموزش ببینی میخوای آموزش ببینی
قوانین و مقررات

بوکم با هدف خدمات محتوایی به پژوهشگران، اساتید و دانشجویان راه اندازی شده است. ما را در ارائه خدمات بهتر یاری داده و به گسترش بوکم کمک نمایید.

قوانین استفاده از بوکم:
1- کاربران موظف به استفاده ضحیح از محتوای رایگان و یا قابل خریداری سایت هستند و این استفاده باید در دایره ی قوانین حاکم در جمهوری اسلامی ایران باشد.
2- بوکم در دایره ی قوانین جمهوری اسلامی ایران فعالیت دارد و از قوانین مالکیت فکری و کپی رایت طبق قواعد جمهوری اسلامی ایران فعالیت میکند. چنانچه در این مورد سهوا اشتباهی انجام شده لطفا اطلاع بدهید تا سریعا پیگیری شود.
3- به خاطر تغییراتی که در فروشگاه های مرجعی که بوکم از آنها کتاب تهیه میکند پیش می آید، ممکن است کتاب خریداری شده ی کاربر قابل تهیه کردن نباشد که در این صورت بوکم مبلغ پرداختی کاربر را به حساب او عودت داده و یا کیف پول او نزد بوکم را شارژ می نماید.
4- بیشتر از کتابهای درخواستی به صورت آنی در اختیار خریدار قرار میگیرد. مواردی که آنی قابل ارسال نیست حداکثر در سه ساعت در زمان کاری تهیه شده و به کاربر اطلاع داده شده و لینک دانلود برای او ارسال میشود.
5- کاربران موظف به حفظ محتوای خریداری شده توسط خودشان هستند و بوکم تعهد نگهداری یک ماه از کتاب خریداری شده توسط کاربر را دارد.
6- کاربرانی که در تامین محتوا و همکاری در فروش با بوکم همکاری دارند بایست طبق قوانین جمهوری اسلامی ایران اقدام به فروش در پلتفرم بوکم نمایند و پاسخگوی مراجع ذی صلاح درباره محتوای فروشی خود در بستر بوکم را به عهده دارند.
7- فایل فروخته شده با ارائه دلیل منطقی(مثل کیفیت نامناسب کتاب برای خوانش) تا 24 ساعت از سوی کاربر قابل عودت می باشد.

پذیرفتن