ورود به حساب کاربری

Introduction to VLSI Testing

Introduction to VLSI Testing

Introduction to VLSI Testing

افزودن به بوکمارک اشتراک گذاری 0 دیدگاه کاربران 5 (0)

مشارکت: عنوان و توضیح کوتاه هر کتاب را ترجمه کنید این ترجمه بعد از تایید با نام شما در سایت نمایش داده خواهد شد.

ترجمه این کتاب مشاهده همه کتاب های ترجمه نشده

گزارش تخلف

گزارش تخلف

مغایرت عنوان کتاب با توضیحات و تصویر جلد
عدم رعایت حقوق نشر طبق قوانین جمهوری اسلامی ایران
محتوای مستهجن
توهین به قومیتها و محتوای نژادپرستی
توهین به اقیلیتهای مذهبی
اهانت به مقامات سیاسی و مذهبی
اشاعه ی کودک آزاری
سایر موارد

بستن

فرمت کتاب

ebook

زبان

english

تاریخ انتشار

1988

نویسنده

Robert J. Feugate Jr.

ناشر

Prentice Hall

شابک

9780134988665

20,000 تومان

خرید کتاب مطالعه نمونه درخواست ترجمه کتاب

کتاب های مرتبط

Introduction to VLSI Testing

Introduction to VLSI Testing

هزار تومان

Hierarchical modeling for VLSI circuit testing

Hierarchical modeling for VLSI circuit testing

هزار تومان

Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits

Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits

هزار تومان

VLSI Test Principles and Architectures

VLSI Test Principles and Architectures

هزار تومان

Vlsi Design Methods

Vlsi Design Methods

هزار تومان

System-On-Chip Test Architectures

System-On-Chip Test Architectures

هزار تومان

Lsi/Vlsi Testability Design

Lsi/Vlsi Testability Design

هزار تومان

VLSI Test Principles and Architectures

VLSI Test Principles and Architectures

هزار تومان

VLSI design and test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised selected papers

VLSI design and test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised selected papers

هزار تومان

VLSI design and test : 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised selected papers

VLSI design and test : 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised selected papers

هزار تومان

Thermal-aware testing of digital VLSI circuits and systems

Thermal-aware testing of digital VLSI circuits and systems

هزار تومان

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

هزار تومان

System-On-Chip Test Architectures

System-On-Chip Test Architectures

هزار تومان

اطلاعات
دیدگاه کاربران

برای مطالعه توضیحات وارد حساب کاربری خود شوید

دیدگاه کاربران

دیدگاه خود را بنویسید

|

افزایش درآمد

بهترین های کودک و نوجوان

میخوای آموزش ببینی

قوانین و مقررات

بوکم با هدف خدمات محتوایی به پژوهشگران، اساتید و دانشجویان راه اندازی شده است. ما را در ارائه خدمات بهتر یاری داده و به گسترش بوکم کمک نمایید.

قوانین استفاده از بوکم:
1- کاربران موظف به استفاده ضحیح از محتوای رایگان و یا قابل خریداری سایت هستند و این استفاده باید در دایره ی قوانین حاکم در جمهوری اسلامی ایران باشد.
2- بوکم در دایره ی قوانین جمهوری اسلامی ایران فعالیت دارد و از قوانین مالکیت فکری و کپی رایت طبق قواعد جمهوری اسلامی ایران فعالیت میکند. چنانچه در این مورد سهوا اشتباهی انجام شده لطفا اطلاع بدهید تا سریعا پیگیری شود.
3- به خاطر تغییراتی که در فروشگاه های مرجعی که بوکم از آنها کتاب تهیه میکند پیش می آید، ممکن است کتاب خریداری شده ی کاربر قابل تهیه کردن نباشد که در این صورت بوکم مبلغ پرداختی کاربر را به حساب او عودت داده و یا کیف پول او نزد بوکم را شارژ می نماید.
4- بیشتر از کتابهای درخواستی به صورت آنی در اختیار خریدار قرار میگیرد. مواردی که آنی قابل ارسال نیست حداکثر در سه ساعت در زمان کاری تهیه شده و به کاربر اطلاع داده شده و لینک دانلود برای او ارسال میشود.
5- کاربران موظف به حفظ محتوای خریداری شده توسط خودشان هستند و بوکم تعهد نگهداری یک ماه از کتاب خریداری شده توسط کاربر را دارد.
6- کاربرانی که در تامین محتوا و همکاری در فروش با بوکم همکاری دارند بایست طبق قوانین جمهوری اسلامی ایران اقدام به فروش در پلتفرم بوکم نمایند و پاسخگوی مراجع ذی صلاح درباره محتوای فروشی خود در بستر بوکم را به عهده دارند.
7- فایل فروخته شده با ارائه دلیل منطقی(مثل کیفیت نامناسب کتاب برای خوانش) تا 24 ساعت از سوی کاربر قابل عودت می باشد.

پذیرفتن