ورود به حساب کاربری

خرید کتاب Lock-In Thermography

اعمال کد تخفیف
مبلغ قابل پرداخت 20,000 تومان
لغو
این بخش در حال توسعه می باشد و به زودی در دسترس شما عزیزان قرار میگیرد
بستن
کاربر محترم لینک های دانلود حداکثر تا ۳ ساعت دیگر به شماره شما پیامک می شود
از صبر و شکیبایی شما ممنونیم
بستن
Lock-In Thermography

Lock-In Thermography

Lock-In Thermography
افزودن به بوکمارک اشتراک گذاری 0 دیدگاه کاربران 5 (0)

Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials

مشارکت: عنوان و توضیح کوتاه هر کتاب را ترجمه کنید این ترجمه بعد از تایید با نام شما در سایت نمایش داده خواهد شد.
ترجمه این کتاب مشاهده همه کتاب های ترجمه نشده
Lock-In Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
In the last 7 years, the ?rst edition of "Lock-in Thermography" has established as a reference book for all users of this technique for investigating electronic devices, especially solar cells. At this time, a vital further development of lock-in therm- raphy could be observed. Not only the experimental technique was improved by applying new and better infrared cameras, solid immersion lenses, and novel t- ing strategies, but also completely new application ?elds of lock-in thermography were established by implying irradiation of light during the measurements. The two groups of new techniques are different kinds of Illuminated Lock-In Thermography (ILIT) and Carrier Density Imaging, resp. Infrared Lifetime Imaging (CDI/ILM). While ILIT is performed on solar cells, CDI/ILM is performed on bare wafers for imaging the local minority carrier lifetime and the local concentration of trapping centers. The new edition of this book implements these new developments. One new section entitled "Timing strategies" is added. In this, new ways are introduced to overcome previous limitations of the choice of the lock-in frequency in comparison with the frame rate of the camera. The previous diffraction limit of the spatial resolution can be overcome by a factor of up to 4 by applying so-called solid immersion lenses. This technique is introduced and its application for failure analysis of ICs, where highest possible spatial resolution is desired, is shown in another new section.
لغو
iran گزارش تخلف

گزارش تخلف

بستن

فرمت کتاب

ebook

زبان

english

تاریخ انتشار

2018

نویسنده

Martin C. Schubert

ناشر

Springer

شابک

9783319998244
20,000 تومان
خرید کتاب مطالعه نمونه درخواست ترجمه کتاب

کتاب های مرتبط

Microelectronics Failure Analysis Desk Reference

Microelectronics Failure Analysis Desk Reference

Richard J. ...
20
هزار تومان
Microelectronics Failure Analysis Desk Reference

Microelectronics Failure Analysis Desk Reference

Richard J. ...
20
هزار تومان
Istfa 2010

Istfa 2010

ASM Interna...
20
هزار تومان
Boundary-Scan Interconnect Diagnosis

Boundary-Scan Interconnect Diagnosis

Jose T. de ...
20
هزار تومان
ISTFA™ 2014 : conference proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis ; November 9-13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA.

ISTFA™ 2014 : conference proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis ; November 9-13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA.

بدون نویسنده
20
هزار تومان
99 ways to use your oscilloscope

99 ways to use your oscilloscope

Albert C W...
20
هزار تومان
9780750639026

9780750639026

بدون نویسنده
20
هزار تومان
Boundary-scan interconnect diagnosis

Boundary-scan interconnect diagnosis

José T d...
20
هزار تومان
Lock-In Thermography

Lock-In Thermography

Martin C. S...
20
هزار تومان
Electronic Technology Handbook

Electronic Technology Handbook

Neil Sclater
20
هزار تومان
ISTFA 2002

ISTFA 2002

ASM Interna...
20
هزار تومان
ISTFA 2007

ISTFA 2007

ASM Interna...
20
هزار تومان
ISTFA 2014 : conference proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis ; November 9-13, 2014, George R. Brown Conversion Center, Houston, Texas, USA

ISTFA 2014 : conference proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis ; November 9-13, 2014, George R. Brown Conversion Center, Houston, Texas, USA

بدون نویسنده
20
هزار تومان
Istfa 2015 proceedings from the 41st international symposium for testing and failure analysis.

Istfa 2015 proceedings from the 41st international symposium for testing and failure analysis.

Asm Interna...
20
هزار تومان
Testing and Failure Analysis [With CDROM]

Testing and Failure Analysis [With CDROM]

ASM Interna...
20
هزار تومان
Automatic Test Equipment

Automatic Test Equipment

Keith Brindley
20
هزار تومان
Richtig messen und prüfen in Haushalt, Hobby und Auto : Leicht gemacht, Geld und Ärger gespart! : Mit dem Multimeter Fehler finden, Das Multimeter als Universalwerkzeug, Moderne Messgeräte in der Praxis

Richtig messen und prüfen in Haushalt, Hobby und Auto : Leicht gemacht, Geld und Ärger gespart! : Mit dem Multimeter Fehler finden, Das Multimeter als Universalwerkzeug, Moderne Messgeräte in der Praxis

Frank Sichla
20
هزار تومان
ISTFA 2006 : proceedings of the 32nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 12-16, 2006, Renaissance Austin Hotel, Austin, Texas, USA.

ISTFA 2006 : proceedings of the 32nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 12-16, 2006, Renaissance Austin Hotel, Austin, Texas, USA.

بدون نویسنده
20
هزار تومان
American National Standard for methods of measurement of radio-noise emissions from low-voltage electrical and electronic equipment in the range of 9 kHz to 40 GHz

American National Standard for methods of measurement of radio-noise emissions from low-voltage electrical and electronic equipment in the range of 9 kHz to 40 GHz

بدون نویسنده
20
هزار تومان
Istfa 2004

Istfa 2004

Electronic ...
20
هزار تومان
ISTFA 2003 : proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California

ISTFA 2003 : proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California

بدون نویسنده
20
هزار تومان
  • اطلاعات
  • دیدگاه کاربران
برای مطالعه توضیحات وارد حساب کاربری خود شوید

دیدگاه کاربران

دیدگاه خود را بنویسید
|
افزایش درآمد افزایش درآمد بهترین های کودک و نوجوان بهترین های کودک و نوجوان میخوای آموزش ببینی میخوای آموزش ببینی
قوانین و مقررات

بوکم با هدف خدمات محتوایی به پژوهشگران، اساتید و دانشجویان راه اندازی شده است. ما را در ارائه خدمات بهتر یاری داده و به گسترش بوکم کمک نمایید.

قوانین استفاده از بوکم:
1- کاربران موظف به استفاده ضحیح از محتوای رایگان و یا قابل خریداری سایت هستند و این استفاده باید در دایره ی قوانین حاکم در جمهوری اسلامی ایران باشد.
2- بوکم در دایره ی قوانین جمهوری اسلامی ایران فعالیت دارد و از قوانین مالکیت فکری و کپی رایت طبق قواعد جمهوری اسلامی ایران فعالیت میکند. چنانچه در این مورد سهوا اشتباهی انجام شده لطفا اطلاع بدهید تا سریعا پیگیری شود.
3- به خاطر تغییراتی که در فروشگاه های مرجعی که بوکم از آنها کتاب تهیه میکند پیش می آید، ممکن است کتاب خریداری شده ی کاربر قابل تهیه کردن نباشد که در این صورت بوکم مبلغ پرداختی کاربر را به حساب او عودت داده و یا کیف پول او نزد بوکم را شارژ می نماید.
4- بیشتر از کتابهای درخواستی به صورت آنی در اختیار خریدار قرار میگیرد. مواردی که آنی قابل ارسال نیست حداکثر در سه ساعت در زمان کاری تهیه شده و به کاربر اطلاع داده شده و لینک دانلود برای او ارسال میشود.
5- کاربران موظف به حفظ محتوای خریداری شده توسط خودشان هستند و بوکم تعهد نگهداری یک ماه از کتاب خریداری شده توسط کاربر را دارد.
6- کاربرانی که در تامین محتوا و همکاری در فروش با بوکم همکاری دارند بایست طبق قوانین جمهوری اسلامی ایران اقدام به فروش در پلتفرم بوکم نمایند و پاسخگوی مراجع ذی صلاح درباره محتوای فروشی خود در بستر بوکم را به عهده دارند.
7- فایل فروخته شده با ارائه دلیل منطقی(مثل کیفیت نامناسب کتاب برای خوانش) تا 24 ساعت از سوی کاربر قابل عودت می باشد.

پذیرفتن