ورود به حساب کاربری

خرید کتاب Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan

اعمال کد تخفیف
مبلغ قابل پرداخت 20,000 تومان
لغو
این بخش در حال توسعه می باشد و به زودی در دسترس شما عزیزان قرار میگیرد
بستن
کاربر محترم لینک های دانلود حداکثر تا ۳ ساعت دیگر به شماره شما پیامک می شود
از صبر و شکیبایی شما ممنونیم
بستن
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan

Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan

Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
افزودن به بوکمارک اشتراک گذاری 0 دیدگاه کاربران 5 (0)

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

مشارکت: عنوان و توضیح کوتاه هر کتاب را ترجمه کنید این ترجمه بعد از تایید با نام شما در سایت نمایش داده خواهد شد.
ترجمه این کتاب مشاهده همه کتاب های ترجمه نشده
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
لغو
iran گزارش تخلف

گزارش تخلف

بستن

فرمت کتاب

ebook

زبان

english

تاریخ انتشار

1999

نویسنده

Adam Osseiran

ناشر

Springer

شابک

9780792386865
20,000 تومان
خرید کتاب مطالعه نمونه درخواست ترجمه کتاب

کتاب های مرتبط

Boundary-Scan Interconnect Diagnosis

Boundary-Scan Interconnect Diagnosis

Jose T. de ...
20
هزار تومان
Boundary-scan interconnect diagnosis

Boundary-scan interconnect diagnosis

José T d...
20
هزار تومان
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan

Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan

Adam Osseiran
20
هزار تومان
Boundary-Scan Test : a Practical Approach

Boundary-Scan Test : a Practical Approach

Harry Bleeker;
20
هزار تومان
Asynchronous system-on-chip interconnect

Asynchronous system-on-chip interconnect

John Bainbr...
20
هزار تومان
Handbook of Advanced Semi-Conductor Technology and Computer Systems

Handbook of Advanced Semi-Conductor Technology and Computer Systems

Guy Rabbat
20
هزار تومان
Digital Logic Circuit Analysis and Design

Digital Logic Circuit Analysis and Design

Bill D. Car...
20
هزار تومان
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits

Gloria Huer...
20
هزار تومان
A Designer's Guide to Built-In Self-Test

A Designer's Guide to Built-In Self-Test

Charles E. ...
20
هزار تومان
High Performance Memory Testing

High Performance Memory Testing

R. Dean Adams
20
هزار تومان
High Performance Memory Testing

High Performance Memory Testing

R. Dean Adams
20
هزار تومان
Fault Injection Techniques And Tools For Embedded Systems Reliability Evaluation (Frontiers In Electronic Testing)

Fault Injection Techniques And Tools For Embedded Systems Reliability Evaluation (Frontiers In Electronic Testing)

Paolo Prinetto
20
هزار تومان
Verification by Error Modeling

Verification by Error Modeling

Zeljko Zilic
20
هزار تومان
CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Manoj Sachdev
20
هزار تومان
CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Manoj Sachdev
20
هزار تومان
New Methods of Concurrent Checking

New Methods of Concurrent Checking

Daniel Mari...
20
هزار تومان
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits

Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits

Manoj Sachdev
20
هزار تومان
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits : 2nd Edition

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits : 2nd Edition

Manoj Sachd...
20
هزار تومان
Oscillation-based test in mixed-signal circuits

Oscillation-based test in mixed-signal circuits

Gloria Huer...
20
هزار تومان
Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation

Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation

Alfredo Benso;
20
هزار تومان
Verification by Error Modeling : Using Testing Techniques in Hardware Verification

Verification by Error Modeling : Using Testing Techniques in Hardware Verification

Katarzyna R...
20
هزار تومان
  • اطلاعات
  • دیدگاه کاربران
برای مطالعه توضیحات وارد حساب کاربری خود شوید

دیدگاه کاربران

دیدگاه خود را بنویسید
|
افزایش درآمد افزایش درآمد بهترین های کودک و نوجوان بهترین های کودک و نوجوان میخوای آموزش ببینی میخوای آموزش ببینی
قوانین و مقررات

بوکم با هدف خدمات محتوایی به پژوهشگران، اساتید و دانشجویان راه اندازی شده است. ما را در ارائه خدمات بهتر یاری داده و به گسترش بوکم کمک نمایید.

قوانین استفاده از بوکم:
1- کاربران موظف به استفاده ضحیح از محتوای رایگان و یا قابل خریداری سایت هستند و این استفاده باید در دایره ی قوانین حاکم در جمهوری اسلامی ایران باشد.
2- بوکم در دایره ی قوانین جمهوری اسلامی ایران فعالیت دارد و از قوانین مالکیت فکری و کپی رایت طبق قواعد جمهوری اسلامی ایران فعالیت میکند. چنانچه در این مورد سهوا اشتباهی انجام شده لطفا اطلاع بدهید تا سریعا پیگیری شود.
3- به خاطر تغییراتی که در فروشگاه های مرجعی که بوکم از آنها کتاب تهیه میکند پیش می آید، ممکن است کتاب خریداری شده ی کاربر قابل تهیه کردن نباشد که در این صورت بوکم مبلغ پرداختی کاربر را به حساب او عودت داده و یا کیف پول او نزد بوکم را شارژ می نماید.
4- بیشتر از کتابهای درخواستی به صورت آنی در اختیار خریدار قرار میگیرد. مواردی که آنی قابل ارسال نیست حداکثر در سه ساعت در زمان کاری تهیه شده و به کاربر اطلاع داده شده و لینک دانلود برای او ارسال میشود.
5- کاربران موظف به حفظ محتوای خریداری شده توسط خودشان هستند و بوکم تعهد نگهداری یک ماه از کتاب خریداری شده توسط کاربر را دارد.
6- کاربرانی که در تامین محتوا و همکاری در فروش با بوکم همکاری دارند بایست طبق قوانین جمهوری اسلامی ایران اقدام به فروش در پلتفرم بوکم نمایند و پاسخگوی مراجع ذی صلاح درباره محتوای فروشی خود در بستر بوکم را به عهده دارند.
7- فایل فروخته شده با ارائه دلیل منطقی(مثل کیفیت نامناسب کتاب برای خوانش) تا 24 ساعت از سوی کاربر قابل عودت می باشد.

پذیرفتن