Electromigration in Thin Films and Electronic Devices

Electromigration in Thin Films and Electronic Devices
افزودن به بوکمارک اشتراک گذاری 0 دیدگاه کاربران 3 (2)

Materials and Reliability

مشارکت: عنوان و توضیح کوتاه هر کتاب را ترجمه کنید این ترجمه بعد از تایید با نام شما در سایت نمایش داده خواهد شد.
iran گزارش تخلف

فرمت کتاب

ebook

زبان

english

تاریخ انتشار

2011

نویسنده

Choong-Un Kim

نویسنده

Choong-Un Kim

شابک

9781845699376
  • اطلاعات
  • دیدگاه کاربران
برای مطالعه توضیحات وارد حساب کاربری خود شوید

دیدگاه کاربران

دیدگاه خود را بنویسید
|