
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
فرمت کتاب
ebook
زبان
english
تاریخ انتشار
2003
نویسنده
Bashir M. Al-Hashimiناشر
Springerشابک
9781402072352
کتاب های مرتبط
- اطلاعات
- دیدگاه کاربران
دیدگاه کاربران