Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
افزودن به بوکمارک اشتراک گذاری 0 دیدگاه کاربران 5 (0)

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

مشارکت: عنوان و توضیح کوتاه هر کتاب را ترجمه کنید این ترجمه بعد از تایید با نام شما در سایت نمایش داده خواهد شد.
iran گزارش تخلف

فرمت کتاب

ebook

زبان

english

تاریخ انتشار

2003

نویسنده

Bashir M. Al-Hashimi

ناشر

Springer

شابک

9781402072352

کتاب های مرتبط

  • اطلاعات
  • دیدگاه کاربران
برای مطالعه توضیحات وارد حساب کاربری خود شوید

دیدگاه کاربران

دیدگاه خود را بنویسید
|