Atomic scale characterization and first-principles studies of Si[subscript 3]N[subscript 4] interfaces

Atomic scale characterization and first-principles studies of Si[subscript 3]N[subscript 4] interfaces
افزودن به بوکمارک اشتراک گذاری 0 دیدگاه کاربران 5 (0)

Atomic scale characterization and first-principles studies of Si3N4 interfaces

مشارکت: عنوان و توضیح کوتاه هر کتاب را ترجمه کنید این ترجمه بعد از تایید با نام شما در سایت نمایش داده خواهد شد.
iran گزارش تخلف

فرمت کتاب

thesis/dissertation

زبان

english

تاریخ انتشار

2011

نویسنده

Weronika Walkosz

شابک

978-1-4419-7816-5

کتاب های مرتبط

  • اطلاعات
  • دیدگاه کاربران
برای مطالعه توضیحات وارد حساب کاربری خود شوید

دیدگاه کاربران

دیدگاه خود را بنویسید
|