Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy
Probing the Traps in Field-Effect Transistors
فرمت کتاب
ebook
زبان
english
تاریخ انتشار
2013
نویسنده
Jae Hoon Kimناشر
Springerشابک
9789400763913
کتاب های مرتبط
- اطلاعات
- دیدگاه کاربران
دیدگاه کاربران