Process-Induced Random Variation and Variation-Aware CMOS Device Designs
Process-Induced Random Variation and Variation-Aware CMOS Device Designs
افزودن به بوکمارک
اشتراک گذاری
0 دیدگاه کاربران
5
(0)
مشارکت: عنوان و توضیح کوتاه هر کتاب را ترجمه کنید
این ترجمه بعد از تایید با نام شما در سایت نمایش داده خواهد شد.
گزارش تخلف
فرمت کتاب
ebook
زبان
english
تاریخ انتشار
2016
نویسنده
Changhwan Shinنویسنده
Changhwan Shinناشر
Springerناشر
Springerشابک
9789401775953
- اطلاعات
- دیدگاه کاربران
برای مطالعه توضیحات وارد حساب کاربری خود شوید
دیدگاه کاربران